14 лист
19:02
Дослідники з Інституту структури і динаміки речовини в Німеччині успішно продемонстрували інтеграцію контролю фотоіндукованої надпровідності на мікрочипі. Цей прорив, досягнутий за допомогою нелінійної терагерцової спектроскопії, не тільки прокладає шлях для розвитку оптоелектронних пристроїв, але й розширює наше розуміння ключових властивостей надпровідності в тонких фотозбуджених плівках.